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Perkin Elmer En Spire 一覧へ 製品情報

EnSpireは、4重モノクロメータ技術をベースとした蛍光および吸光度測定用プレートリーダーです。指定した波長でのエンドポイント測定や全波長域スキャンなど、自由な設定での測定が可能です。 カーブフィッティング(直線回帰、スプライン、4/5パラメーター)、リファレンス波長補正、バックグラウンド減算、レシオ演算、IC50など、多彩な演算が利用できます。また、1~384ウェルプレートでの測定ができます。

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